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厚度计
涂层测厚仪(产地:英国易高)HZ-1866

详细介绍

HZ-1866 涂层测厚仪(产地:英国易高)设备概述:

适用于各种金属基体的涂层测量,性能优越,经济实用极具特色。基本型操作简单 ,经济耐用;标准型具数据输出功 能,可连接计算机进行数据处理盒打印;高级型功能 更趋完善,度身设计配合不同应用。整体探头可直接放在涂层上读数,简单易用,优铁基、非铁基、二合一标准式探头可供选择。

 

技术参数:

类型

基材

型号

量程

积体式

基体

铁基(F)

A456FBI1

0-1500μm

非铁基(NF)

A456NBI1

0-1500μm

铁基/非铁基(FNF)

A456FNFBI1

0-1500μm

分体式

基体

铁基(F)

A456FBS

 

非铁基(NF)

A456NBS

 

铁基/非铁基(FNF)

A456FNFBS

 

探头

F1直身探头

T456F1S

0-1500μm

N1直身探头

T456N1S

0-1500μm

产品特性:

积体式:具有简单统计功能,背灯,公制及英制单位

优点:具有较经济及轻便,可单手操作。

分体式:简单统计功能,背灯,公制及英制单位。

优点:是可更换不同量程探头,以配合不同量程需要。 

 

 

探头类型

最小曲面直径

最小凹面直径

隙距

最小平直径

轻正厚度 

F1(铁基)

4mm(0.16)

25mm(0.98)

85mm(3.35)

4mm(0.16)

250μm(10mil)

N1(非铁基)

35mm(1.38)

25mm(0.98)

85mm(3.35)

6mm(3.35)

250μm(10mil)

产品特性:

积体式:具有简单统计功能,背灯,公制及英制单位

优点:具有较经济及轻便,可单手操作。

分体式:简单统计功能,背灯,公制及英制单位。

优点:是可更换不同量程探头,以配合不同量程需要。

 

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